XAFS（全称是X-ray Absorption Fine Structure），即X射线吸收精细结构谱，是用于描绘局部结构最强有力的工具之一。
XAFS方法是一种基于同步辐射装置的使用最广泛、最重要的研究手段，尤其是随着第三代同步辐射光源的出现以及多种插入件的利用，高亮度的X射线光源使XAFS技术在物理、化学、材料科学、生命科学和环境科学等众多学科领域研究方面取得了许多重大的进展和突破，极大地推动了交叉学科的发展，影响巨大，受到科学界的高度重视。
近年来，XAFS技术，包括X射线近边结构吸收谱XANES/NEXAFS (X-ray absorption near-edge structure) 和X射线精细结构吸收谱EXAFS (Extended X-ray absorption fine structure)，已成为在原子层面研究材料局域结构和化学反应过程的强有力手段，广泛应用于材料、催化、能源、纳米等热门领域。
